南通回收回收SAMSUNG三星内存卡 回收BGA
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南通回收BGA
USB5734-I/MR、XCF16PVOG48C、SN74LVC2G14DBVR、STM32F765NIH6、XCKU115-2FLVA1517E、5CGXFF7M11C8N、AT32UC3A0512-ALU、TPS563201DDCR、XC7Z010-1CLG400C、SN74LVC8T245RHLR、TPS7A4701RGWR、ADS5263IRGCT、SP3232EEN-L/TR、S29JL064J70TFI000、TPS7A3001DGNR、1、STM32F107R6、5CEFA5U19I7N、AM26LV32EIRGYR、TLC5926IPWPR、STM8L151C8T6、LM25122、TPS73633DBVR、STM32F437IIT6、MCF5282CVM80、NCV47711PDAJR2G、MC34VR500V1ES、EP4CE10E22I7N、IKW75N65EH5、KSZ8864RMNUB、S912ZVL96F0MLF、S912ZVC12F0VLFR、MC56F8037VLH、TPS54618、ADUM1250ARZ、AD7894ARZ-10、AD8605ARTZ、SN65HVD233DR、PIC18F46K80-I/PT
有电压,短路在SW1和继电器之间(点B);无电压,短路在继电器之后更远处。闭合SW1,用带熔丝的跳线跨接闭合继电器测量电压。有电压,短路在继电器线路之后或在继电器和断开的电磁阀之间(点C);无电压,返回检查步骤并检查熔丝盒的电源。用万用表检查电路短路——导通检测法断开蓄电池负极并拆下已熔断的熔丝。断开所有通过熔丝电源的负载(SW1断开,将继电器和电磁阀断开)。将欧姆表的一个探针接到熔丝端口的负载侧,将另一探针接到已知良好的地线处。
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